Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Выложенные файлы

  • Страницы:
  • 1
  • 2
  • Всего: 51
Навчальний посібник. — Львів : ЛНУ імені Івана Франка, 2012. — 296 с. Список скорочень Передмова Вступ Основні поняття оптичної та електронної мікроскопії Методи формування зображення Пікселі Оптичний мікроскоп Збільшення Розділення Глибина поля і глибина фокуса Аберації оптичних систем Світло та електрони Контрольні запитання і завдання Взаємодія електронного пучка з речовиною...
  • №1
  • 6,84 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Elsevier Inc. , 2011. — 228 p. Introduction: Infrared and Raman Spectroscopy Basic Principles Instrumentation and Sampling Methods Enviromental Dependence of Vibrational Spectra Origin of Group Frequecies IR and Raman Spectra-Structure Correlations: Characteristic Group Frequencies General Outline and Strategies for IR and Raman Spectral Interpretation Illustrated IR and Raman...
  • №2
  • 9,97 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Выходные данные не приведены. 41 с. Содержание: «Плотская страсть – основа счастливой семьи» Как выбирать жениха (невесту)? Может ли быть счастливым брак по расчету? В чем смысл церковного брака? Возможен ли брак с неправославным? Ваш супруг – атеист или иноверный Как готовиться к венчанию? Как проводить свадьбу? Как сохранить брак счастливым? Как вести себя с мужем? Какие...
  • №3
  • 85,68 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Київ: Наукова думка, 2008. – 232 с. Основні положення фрактальної геометрії. Автомодельність та фрактали. Детерміновані фрактали. Розмірність та міра. Самоафінні фрактали. Мультифрактали. Застосування фракталів у математиці, фізиці і астрофізиці. Дробовий інтеграл і дробова похідна. Термодинаміка і газодинаміка. Електродинаміка. Методи ренормування груп, кластеризації...
  • №4
  • 28,08 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
John Wiley & Sons, 2006, 368p. The Auger Process Instrumentation The Spatial Resolution Forming an Auger Image Image Processing and Interpretation Quantification of Auger Images Applications: Materials Science Applications: Semiconductor Manufacturing Concluding Remarks
  • №5
  • 53,21 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Cambridge University Press, 2003, 718p. Basic crystallography Basic quantum mechanics, Bragg’s Law and other tools The transmission electron microscope Getting started Dynamical electron scattering in perfect crystals Two-beam theory in defect-free crystals Systematic row and zone axis orientations Defects in crystals Electron diffraction patterns Phase contrast...
  • №6
  • 33,55 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
2nd Ed. , 2009, John Wiley & Sons, 666 p. How do we Define the Surface? How Many Atoms in a Surface? Information Required Surface Sensitivity Radiation Effects – Surface Damage Complexity of the Data Auger Electron Spectroscopy Principle of the Auger Process Instrumentation Quantitative Analysis Depth Profile Analysis Electron Spectroscopy for Chemical Analysis Overview X-ray...
  • №7
  • 15,80 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
2nd ed. — Springer Verlag, 2011. — 754 p. This book is tailored for students and professionals as well as novices from other fields to mass spectrometry. It will guide them from the basics to the successful application of mass spectrometry in their daily research. Starting from the very principles of gas-phase ion chemistry and isotopic properties, it leads through the design...
  • №8
  • 27,03 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer, 1996. — 403 p. Theory of Inner Shell Excitation Spectra Symmetry and Molecular Orbitals Experimental and Calculated A-Shell Spectra of Simple Free Molecules Principles, Techniques, and Instrumentation of NEXAFS Spectra of Condensed, Chemlsorbed, and Polymeric Molecules: An Overview Analysis of K-Shell Excitation Spectra by Curve Fitting sigma* Resonance Position and...
  • №9
  • 6,59 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Wiley-VCH, 2004, 238p. A First-Principles Scheme for Calculatingv the Electronic Structure of Strongly Correlated Materials: GW+DMFT A Many-body Approach to the Electronic and Optical Properties of Copper and Silver Correlation Spectroscopy of Nano-size Materials Electron–Electron Coincidence Studies on Atomic Targets: A Review of (e,2e) and (e,3e) Experiments Studying the...
  • №10
  • 6,18 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Elsevier, 2001, 747 p. Surface phenomena and the structure of interfaces in one-component systems The adsorption phenomena. Structure and properties of adsorption layers at the liquid-gas interface Interfaces between condensed phases. Wetting The formation of disperse systems Transfer processes in disperse systems Lyophilic colloidal systems General causes for degradation and...
  • №11
  • 26,72 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
2nd edition. — Springer, 2009. — 741 p. Fundamentals of Crystalline State and Crystal Lattice Finite Symmetry Elements and Crystallographic Point Groups Infinite Symmetry Elements and Crystallographic Space Groups Formalization of Symmetry Nonconventional Symmetry Properties, Sources, and Detection of Radiation Fundamentals of Diffraction The Powder Diffraction Pattern...
  • №12
  • 38,05 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Cambridge University Press, 1996, 436 p. Symbols and definitions Kinematical electron diffraction Reflection high-energy electron diffraction Dynamical theories of RHEED Resonance reflections in RHEED Imaging surfaces in TEM Contrast mechanisms of reflected electron imaging Applications of UHV REM Applications of non-UHV REM Phonon scattering in RHEED Valence excitation in...
  • №13
  • 67,37 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Kluwer Academic Publishers, 2002, 302 p. Ultrahigh Vacuum and Vacuum Compatibility of Materials Cryogenic Sample Transfer for Preservation of Surface Chemistry Specimen Handling: Cleaning and Processing Atomically Clean Surfaces of Elemental Solids Specimen Treatments: Surface Preparation of Metal Compound Materials (Mainly Oxides) In Situ Processing by Gas or Alkali Metal...
  • №14
  • 2,35 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Academic Press, 2001, 186p. Fundamental Concepts in Ultrahigh Vacuum, Surface Preparation, and Electron Spectroscopy Auger Electron Spectroscopy Photoelectron Spectroscopy Inelastic Scattering of Electrons and Ions Low-Energy Electron Diffraction Scanning Probe Microscopy Interfacial Segregation Metal–Semiconductor Interfaces Gas–Surface Interactions
  • №15
  • 1,60 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer, 2010, 338 p. Techniques: General Introduction Preliminary Preparation Techniques Thinning Preparation Techniques Mechanical Preparation Techniques Replica Techniques Techniques Specific to Fine Particles Contrast Enhancement and Labeling Techniques
  • №16
  • 11,69 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer, 2010, 250 p. Methodology: General Introduction Introduction to Materials The Different Observation Modes in Electron Microscopy (SEM, TEM, STEM) Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques Artifacts in Transmission Electron Microscopy Selection of Preparation Techniques Based on...
  • №17
  • 8,23 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Elsevier, 2008, 1014 p. Fundamental Atomic-Scale Issues/Processes Pertinent to Dynamics at Surfaces Basic Mechanisms in Atom–Surface Interactions Physisorption Dynamics at Metal Surfaces Intra-molecular Energy Flow in Gas–Surface Collisions Inelastic Scattering of Heavy Molecules from Surfaces Reaction Dynamics and Kinetics: TST, Non-equilibrium and Non-adiabatic Effects,...
  • №18
  • 14,36 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Wiley, 2011, 563 p. Bulk Growth of Mercury Cadmium Telluride (MCT). Bulk Growth of CdZnTe/CdTe Crystals. Properties of Cd(Zn)Te Relevant to Use as Substrates. Substrates for the Epitaxial Growth of MCT. Liquid Phase Epitaxy of MCT. Metal-Organic Vapor Phase Epitaxy (MOVPE) Growth. MBE Growth of Mercury Cadmium Telluride. Mechanical and Thermal Properties. Optical Properties of...
  • №19
  • 8,06 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
3d ed. , rev. and expanded, Marcel Dekker, 1997, 650 p. Colloid and Surface Chemistry: Scope and Variables Sedimentation and Diffusion and Their Equilibrium Solution Thermodynamics: Osmotic and Donnan Equilibria The Rheology of Dispersions Static and Dynamic Light Scattering and Other Radiation Scattering Surface Tension and Contact Angle: Application to Pure Substances...
  • №20
  • 7,63 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Wiley, 1995, 716 p. Basic Semiconductor Electronics. Basic Quantum Mechanics. Theory of Electronic Band Strucfures in Semiconductors. Electromagnetics. Light Propagation in Various Media. Optical Waveguide Theory. Waveguide Couplers and Coupled-Mode Theory. Optical Processes in Semiconductors. Semiconductor Lasers. Direct Modulation of Semiconductor Lasers. Electrooptic and...
  • №21
  • 23,75 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
2 ed, Cambridge University Press, 1994, 586 p. Surface crystallography and diffraction Electron spectroscopies Incident ion techniques Desorption spectroscopies Tunnelling microscopy Work function techniques Atomic and molecular beam scattering Vibrational spectroscopies
  • №22
  • 19,10 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Elsevier, 1996, 884 p. Basic aspects of the structure of crystalline surfaces Experimental methods to study surface structure Structure of adsorbed layers Defects and phase transitions at surfaces
  • №23
  • 42,04 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
3 ed. , Kluwer, 2003, 689p. The SEM and Its Modes of Operation Electron Beam Specimen Interactions Image Formation and Interpretation Special Topics in Scanning Electron Microscopy Generation of X Rays in the SEM Specimen X-Ray Spectral Measurement: EDS and WDS Qualitative X-Ray Analysis Quantitative X-Ray Analysis: The Basics Special Topics in Electron Beam X-Ray Microanalysis...
  • №24
  • 122,63 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
3-е издание. — М.: Советская наука, 1957. — 476 с. Предлагаемая читателю книга рассчитана на микроскописта-биолога, работающего в области цитологии, эмбриологии и зоологии. Размеры книги не позволили включить в нее специальные методы изучения растительных клеток и тканей, но все же многие методы, описанные в общей и цитологической области, могут быть использованы и...
  • №25
  • 6,05 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer, 2009, 330p. Sample Collection and Selection Sample Preparation Tools Sample Support Sample Embedding and Mounting Sample Exposure Sample Dehydration Sample Stabilization for Imaging in the SEM. Sample Stabilization to Preserve Chemical Identity Sample Cleaning Sample Surface Charge Elimination Sample Artifacts and Damage Additional Sources of Information
  • №26
  • 6,27 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
BIOS Scientific Publishers Limited, 2003, 151p. History Principles The energy-dispersive X-ray detector Spectral processing Energy-dispersive X-ray microanalysis in the scanning electron microscope X-ray microanalysis in the transmission electron microscope X-ray mapping Energy-dispersive X-ray analysis compared with other techniques
  • №27
  • 3,27 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Taylor & Francis, 2010, 245p. Introduction to Surfaces and Colloids Capillarity and Surface Forces (Liquids) Surfactants (Soaps and Detergents) and Physicochemica Properties Spread Lipid Films on Liquid Surfaces (Langmuir–Blodgett Fi lms) Solid Surfaces—Adsorption Wetting, Adsorption, and Cleaning Processes Colloidal Systems Thin Liquid Films Emulsions, Microemulsions, and...
  • №28
  • 3,10 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
2nd ed. , Springer, 2009. - 832 p. = BASICS The Transmission Electron Microscope Scattering and Diffraction Elastic Scattering Inelastic Scattering and Beam Damage Electron Sources Lenses, Apertures, and Resolution How to ‘See’ Electrons Pumps and Holders The Instrument Specimen Preparation = DIFFRACTION Diffraction in TEM Thinking in Reciprocal Space Diffracted Beams...
  • №29
  • 44,64 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer-Verlag, 1979, 221p. Work Function of Metals Theory Experimental Procedures Work Function of Pure Metals with Clean Surfaces Work Function Changes Induced by Adsorbates on Pure Metals Work Function of Alloys Physical and Chemical Properties of Stepped Surfaces Characterization of Stepped Surfaces Properties of Clean Stepped Surfaces Interaction of Atoms and Molecules...
  • №30
  • 1,92 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer-Verlag, 1975, 125p. The Electrical Resistivity of Pure and Gas Covered Metal Films Experimental Structure of the Films The Resistivity of Pure Metal Films The Temperature Dependence of Resistivity of Pure Metal Films Resistivity Change Due to Gas Adsorption Resistivity and Heat of Adsorption Concluding Remarks How Much Can Auger Electrons Tell Us About Solid Surfaces?...
  • №31
  • 837,90 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Вуз, автор, год неизвестны. 14с. Принцип и возможности метода ВИМС Процесс распыления Краткая теория Анализ состава поверхности твердых тел Анализ по глубине
  • №32
  • 271,81 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Москва-2005, 17с. Кафедра молекулярной и биологической физики, Московский физико-технический институт. Курс Физические методы исследований.
  • №33
  • 153,96 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Новосибирск, 1994, 184с. Лекции для студентов (специальность 20.01). Часть 1. Новосибирский государственный технический университет Лекции 1-16. Содержание отсутствует. Сканированные двойные страницы.
  • №34
  • 37,89 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Cambridge University Press, 2003, 372p. Introduction to surface processes Surfaces in vacuum: ultra-high vacuum techniques and processes Electron-based techniques for examining surface and thin film processes Surface processes in adsorption Surface processes in epitaxial growth Electronic structure and emission processes at metallic surfaces Semiconductor surfaces and...
  • №35
  • 6,45 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Elsevier, 2000, 1058p. Fundamentals of the electronic structure of surfaces Electronic structure of semiconductor surfaces Electronic states on metal surfaces Electronic structure of adsorbates on surfaces. Adsorption on semiconductors. Theory of adsorption on metal substrates Experimental probes of the surface electronic structure Electronic structure of semiconductor surfaces...
  • №36
  • 10,00 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Учебное пособие для студентов 4 курса, специальности 010400 - физика и 200200 - микроэлектроника и полупроводниковые приборы. Воронежский госуниверситет. Воронеж-1999. 45 с. Введение Теоретические основы Способы возбуждения фотоэлектронов Электронные энергоанализаторы и разрешающая способность Фотоэлектронные спектры в твердом теле Химические сдвиги остовных уровней...
  • №37
  • 294,41 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Kluwer, 2002, 451p. Photon beam damage and charging at solid surfaces Electron beam damage at solid surfaces Ion beam bombardment effects on solid surfaces at energies used for sputter depth profiling Characterization of surface topography Depth profiling using sputtering methods
  • №38
  • 5,52 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Wiley -VCH, 2002, 352p. Electron detection Ion detection Photon detection Scanning probe microscopy Summary and comparison of techniques Surface and thin film analytical equipment suppliers
  • №39
  • 5,77 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Wiley-VCH, 2010, 261p. Chirality at metal surfaces The template route to nanostructured model catalysts In situ STM studies of model catalysts Theory of scanning tunneling microscopy and applications in catalysis Characterization and modification of electrode surfaces by in situ STM STM imaging of oxide nanolayer model systems Surface mobility of atoms and molecules studied...
  • №40
  • 9,51 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Wiley, 2003, 212p. Electron spectroscopy: some basic concepts Electron spectrometer design The electron spectrum: qualitative and quantitative interpretation Compositional depth profiling Applications of electron spectroscopy in materials science Comparison of XPS and AES with other analytical techniques
  • №41
  • 12,72 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
М, Наука, 2006, 490с. Основы двумерной кристаллографии Экспериментальные условия Методы анализа поверхности I. Дифракция Методы анализа поверхности II. Электронная спектроскопия Методы анализа поверхности III. Зондирование ионами Методы анализа поверхности IV. микроскопия Атомная структура чистых поверхностей Атомная структура поверхностей с адсорбатами Структурные...
  • №42
  • 9,03 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
3d edition, Taylor&Francis, 2001, 265p. Microscopy with light and electrons Electrons and their interaction with the specimen Electron diffraction The transmission electron microscope The scanning electron microscope Chemical analysis in the electron microscope Electron microscopy and other techniques
  • №43
  • 19,72 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
5th ed. — Springer, 2008, 602p. TransmissionElectronMicroscopy Alternative Types of Electron Microscopy Particle Optics of Electrons Acceleration and Deflection of Electrons ElectronLenses Lens Aberrations Correction of Aberrations and Microscope Alignment Wave Optics of Electrons ElectronWavesandPhaseShifts Fresnel and Fraunhofer Diffraction Wave-Optical Formulation of Imaging...
  • №44
  • 5,21 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Elsevier, 2006, 301p. About the Authors Acknowledgements Structure of the Book Mesoscopic Physics and Nanotechnologies Outlook of the book Trends in nanoelectronics and optoelectronics Characteristic lengths in mesoscopic systems Quantum mechanical coherence Quantum wells, wires, and dots Density of states and dimensionality Semiconductor heterostructures Quantum transport...
  • №45
  • 3,49 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Artech House, Inc. , 2004, 436p. Synopsis Growth Optoelectronic Devices Based on Semiconductor Nanostructures Materials for Semiconductor Nanostructures Review of Crystal, Thin-Film, and Nanostructure Growth Technologies Review of Thermodynamics Bulk Crystal Growth Techniques Epitaxial Growth Techniques Thin-Film Deposition Techniques Growth of Nanostructures Quantum Dot...
  • №46
  • 7,71 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Москва: Янус-К, 2000. — 415 с. Взаимодействие электромагнитного поля с твердыми телами Феноменологическое описание взаимодействия света с веществом Оптические функции твердых тел Отражение света от твердых тел Соотношения Крамерса—Кронига и правила сумм Характеристические потери энергии электронов Микроскопическое описание взаимодействия света с веществом Диэлектрическая...
  • №47
  • 2,39 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer, 2005, 202p. An Introduction to Microscopy Limitations of the Human Eye The Light-Optical Microscope The X-ray Microscope The Transmission Electron Microscope The Scanning Electron Microscope Scanning Transmission Electron Microscope Analytical Electron Microscopy Scanning-Probe Microscopes Electron Optics PropertiesofanIdealImage ImaginginLightOptics...
  • №48
  • 5,38 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Львів: Видавничий центр ЛНУ імені Івана Франка, 2006. — 63 с. Лабораторний практикум. Розглянуто застосування дифракції електронів для дослідження структури матеріалів, описано шість лабораторних робіт з методики індексування та розшифрування електронограм від полікристалічних, монокристалічних і аморфних матеріалів, проаналізовано геометрію утворення дифракційної картини в разі...
  • №49
  • 891,51 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
CRC Press, 2003, 310p. Background History of Microscopy Scanning Probe Microscopes (SPMs) Scanning Tunneling Microscope (STM) Electron Tunneling Atomic Force Microscope (AFM) Modes of Operation of AFM Simultaneous AFM and Scanning Near-Field Fluorescence (SNOM and SNOM–AFM) Friction Force Microscopy (FFM) STM and AFM Studies under Fluids Sample Preparation Procedures for STM...
  • №50
  • 14,00 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Нет выложенных файлов.
  • Страницы:
  • 1
  • 2
  • Всего: 51