World Scientific, 2002. — 281 p. — (Selected Topics in Electronics and Systems – Vol. 23). — ISBN: 981-02-4842-3. The semiconductor industry has invested billions of dollars in research, development and manufacture of high quality oxides. This investment has resulted in ever thinner oxides operating in higher performance ICs. We are now being faced with some fundamental limits...
ZVEI: Automotive – Electronics, Infrastructure & Software, 2020. - 28p. This guideline provides lessons-learned, experiences and best practices related to the application of ISO 26262 for the development of software.
Springer, 2025. — 199 p. This book describes several versatile hardware analysis techniques that tackle existing and new challenges. These techniques cover different phases of the hardware development process, including the verification, debugging, and post-synthesis optimization phases. The authors introduce the Waveform Analysis Language (WAL), which allows users to code...
Springer, 2019. — 394 р. — ISBN: 978-3-319-98116-1. This book provides a comprehensive coverage of System-on-Chip (SoC) post-silicon validation and debug challenges and state-of-the-art solutions with contributions from SoC designers, academic researchers as well as SoC verification experts. The readers will get a clear understanding of the existing debug infrastructure and how...
Hoboken: Wiley, 2011. — 402 p. A unique book that describes the practical processes necessary to achieve failure free equipment performance, for quality and reliability engineers, design, manufacturing process and environmental test engineers. This book studies the essential requirements for successful product life cycle management. It identifies key contributors to failure in...
3rd edition. — ZVEI: Electrical Components and Systems Division, 2015. - 67p. As semiconductors are most complex and test needing devices the new test approach is described exemplarily for those, which could also be transferred to all other components. Many companies, semiconductor manufacturers, component manufacturers (Tier1) and car manufacturers (OEMs) brought together the...
Springer, 2023. — 389 p. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal...
Wiley / IEEE Press, 2009. — 640 p. — (IEEE Press Series on Microelectronic Systems). — ISBN: 978-0471-73172-6. Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf‐Peter Vollertsen, Jordi Suñé, Giuseppe La Rosa, Stewart E. Rauch III. Timothy D. Sullivan. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms – from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability...
Springer, 2019. — 487 p. — ISBN 978-3-030-26171-9. Sheldon Tan, Mehdi Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, Saman Kiamehr. Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models. Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires are stressed under...
Springer, 2011. — xviii, 212 p. — ISBN: 978-1-4419-8297-1. This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening...
Elsevier, 2015. — xvii, 458. — (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials, 81). — ISBN: 978-0-85709-911-2. Robust Design of Microelectronics Assemblies Against Mechanical Shock, Temperature and Moisture discusses how the reliability of packaging components is a prime concern to electronics manufacturers. The text presents a thorough review of this important...
Учебное пособие для ВИСМ. — М.: Издательство стандартов, 1974. — 212 с. Написано по программе курса "Стандартизация и качество продукции в радиоэлектронике", читаемого во Всесоюзном институте повышения квалификации руководящих и инженерно-технических работников в области стандартизации, качества и метрологии (ВИСМ). Книга состоит из двух разделов. В первом разделе излагается...
Учебное пособие. — М.: МИРЭА, 2000. — 86 с. — (Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет)). Рассмотрены вопросы качества продукции и оценивания ее характеристик с помощью познавательных операций (технических измерений, контроля, испытания и диагностики) в соответствии с общепризнанной терминологией. Пособие является...
Учебное пособие. — Ульяновск: Ульяновский государственный технический университет (УлГТУ), 2019. — 48 с. — ISBN: 978-5-9795-1892-3. В учебном пособии рассматриваются предмет и цели изучения технической диагностики, основные термины и определения, виды и методы технического диагностирования. Приводится общая характеристика моделей объектов диагностирования. Рассматриваются...
СПб.: СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2022. — 48 с. Даны правила эксплуатации и ремонта РЭС ВМФ. Предназначено для изучения дисциплины «Эксплуатация гидроакустических средств» и самостоятельной подготовки студентов, курсантов радиотехнических специальностей по общим вопросам ремонта, технического обслуживания и эксплуатации базовых образцов корабельных РЭС.
Монография. — 3-е изд., доп. и перераб. — Ульяновск: Ульяновский государственный технический университет (УлГТУ), 2020. — 470 с. В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы...
2-е изд. — Ульяновск: Ульяновский государственный технический университет (УлГТУ), 2015. — 406 с. В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и...
Учебник для вузов. Специальная литература. — СПб.: Лань, 2018. — 284 с. — ISBN: 978-5-8114-3312-4. В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и...
М.: Высшая школа, 1984. — 367 с. В книге рассматриваются основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при производстве интегральных микросхем. Измерение, контроль и испытания ИМС. Основные понятия и определения. Предисловие. Введение. Технология производства ИМС. Контрольно-измерительные операции при производстве ИМС. Методы измерения и...
Учебник для высшего профессионального образования. — Орел: ФГБОУ ВПО «Госуниверситет - УНПК», 2012. — 157 с. — ISBN: 978-5-93932-424-3. Авторы: В.Т. Ерёменко, А.А. Рабочий, И.И. Невров, О.А. Воронина, А.Е. Георгиевский, В.М. Донцов. В учебнике изложены основные понятия и методы контроля и диагностики электронных средств, широко используемых в системах электронной техники....
Учеб. пособие. - Екатеринбург: УрФУ, 2013. – 102 с. ISBN: 978–5–321–02333–4. Рассмотрены вопросы качества, надежности, а также системы управления качеством электронной компонентной базы ЭВМ специального назначения. Предназначено для студентов направлений: 230100 – Информатика и вычислительная техника и 211000 – Конструирование и технология электронных средств. Введение....
Комаров Н.М., Зворыкина Т.И., Максимов А.В., Сумзина Л.В. — Учебное пособие. — М.: Солон-Пресс, 2012. — 128 с.: ил. — (Библиотека инженера). — ISBN 978-5-91359-105-0. Учебное пособие «Инфраструктура и управление качеством предприятий сервиса бытовой и офисной техники» состоит из введения и четырех глав, посвященных различным аспектам инфраструктуры и управления качеством...
Москва: Радио и связь, 1986. — 192 с. Рассмотрены методы анализа и синтеза конструкций и технологических процессов производства радиоэлектронной аппаратуры с использованием математических моделей. Изложены методы планирования активного эксперимента, обработки результатов наблюдений, экспериментальных данных, индивидуального прогнозирования состояния и качества радиоэлектронной...
Учебное пособие. под общ. ред. Ю.В. Малышенко. — Владивосток: Владивостокский государственный университет экономики и сервиса, 2010. — 302 с. — ISBN: 978-5-9736-0163-8. Учебное пособие разработано в соответствии с программой курса, а также требованиями образовательного стандарта России к учебной дисциплине «Техническая диагностика». Рассматриваются вопросы диагностирования...
М.: Радио и связь, 1986- - 216 с. Излагаются в опрос м теории и практики обеспечения надежности печатного монтажа. (ПМ) при изготовлении, контроле, испытаниях и в процессе эксплуатации. Описываются типичные отказы печатных плат (ПП). Приводятся данные о мерс допустимости дефектов и способах ремонта элементов печатного монтажа. Даются сведения о современных методах и средствах...
Учебник для техникумов. — М.: Радио и связь, 1981. — 280 с. В учебнике изложены, основы теории надежности, испытаний и стандартизации радиодеталей и радиокомпонентов. Учебник предназначен для учащихся техникумов приборостроительных специальностей; он также может быть полезен инженерно-техническим работникам, занимающимся вопросами надежности и испытания радиодеталей и...
Монография. — Красноярск: СибГУ им. М.Ф. Решетнева, 2017. — 230 с. — ISBN 978-5-86433-732-5. Орлов В.И., Федосов В.В., Казаковцев Л.А., Масич И.С., Проценко В.В., Сташков Д.В. Целью исследования является поиск способов повышения надежности и срока активного существования космических аппаратов (КА) на основе развития методов прогнозирования работоспособности, обеспечения...
Перевод с английского А.А. Кузьмичевой. — Москва: Техносфера, 2007. — 192 с. — ISBN: 978-5-94836-106-2. Эта книга предназначена для инженеров, которые проектируют или обслуживают все виды электронных схем, как аналоговых, так и цифровых. А также для всех, кто интересуется электронными схемами. Первая глава - ключ к обнаружению неисправностей в электронных схемах и правильному...
Ульяновск: УлГТУ, 2022. — 190 с. Монография посвящена разработке эффективного метода электрофизического диагностирования интегральных схем средней степени интеграции по параметрам нелинейности их характеристик энергопотребления. В монографии проведен анализ метода диагностирования интегральных схем, позволяющего выявлять и отбраковывать изделия со скрытыми дефектами. Метод...
Комментарии