Boca Raton: CRC Press, 2024. — 249 p. Optical microscopy is one of the most frequently used tools in chemistry and the life sciences. However, its limited resolution hampers the use of optical imaging to many other relevant problems in different disciplines. Super-Resolution Microscopy (SRM) is a new technique that allows the resolution of objects down to a few billionth of...
VCH Verlagsgesellschaft mbH, D-69451 Weinheim, Germany, 1997, 597 pages, ISBN: 3527292802.
The importance of microscopic imaging has in recent years been recognized repeatedly by the awarding of Nobel prizes to the inventors of a number of such methods. As a consequence of the decreasing scale of many devices, high resolution characterization methods have become of vital...
VCH Verlagsgesellschaft, Weinheim, Germany, 1997. – 905 p. – ISBN: 3527292934 The importance of microscopic imaging has in recent years been recognized repeatedly by the awarding of Nobel prizes to the inventors of a number of such methods. As a consequence of the decreasing scale of many devices, high resolution characterization methods have become of vital importance for...
VCH Verlagsgesellschaft, Weinheim, 1997, 507 pages, ISBN: 3527294732
Handbook of Microscopy Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry Edited by S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo Comprehensive in coverage, written and edited by leading experts in the field, this Handbook is a definitive, up-to-date reference work. The Volumes...
Springer, 2010, 250 p.
Methodology: General Introduction
Introduction to Materials
The Different Observation Modes in Electron Microscopy (SEM, TEM, STEM)
Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses
Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques
Artifacts in Transmission Electron Microscopy
Selection of Preparation Techniques Based on...
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2000 — 2nd Ed. — 370p. — (Springer Series in Surface Sciences 32) — ISBN: 978-3-642-08500-0 (Softcover), 978-3-540-65715-6 (Hardcover).
Scanning Tunneling Microscopy and its Application presents a unified view of the rapidly growing field of STM,and its many derivatives. A thorough discussion of the various principles provides the background...
World Scientific Publishing, 2008, 311 pages, ISBN: 9812797335 In-situ high-resolution electron microscopy is a modern and powerful technique in materials research, physics, and chemistry, but no book covering it has been published until now. In-situ techniques are not even treated in textbooks of electron microscopy. Thus, there is a need to collect the present knowledge about...
Springer, 2014. — 513 p. — ISBN: 978-1-4939-0934-6. This book, written by a pioneer in surface physics and thin film research and the inventor of Low Energy Electron Microscopy (LEEM), Spin-Polarized Low Energy Electron Microscopy (SPLEEM) and Spectroscopic Photo Emission and Low Energy Electron Microscopy (SPELEEM), covers these and other techniques for the imaging of surfaces...
CRC Press, Taylor & Francis Group, 2010. XVI, 164 p. — ISBN: 978-1-4200-8450-4 (hardcover: alk. paper). Microscopy, which has served as a fundamental scientific technique for centuries, remains an invaluable tool in chemistry, biology, healthcare, and forensics. Increasingly, it is being integrated into modern chemical instrumentation and is of value as a powerful analytical...
Wiley. 1951. 332 p.
Introduction to Phase Microscopy
An Elementary Theory of Phase Microscopy
Instrumentation
The Technics of Phase Microscopy
Phase Microscopy in Biology and Medicine
Industrial Applications of Phase Microscopy
Wiley-VCH, 2017. — 398 p. — ISBN: 3527341331. This unique book on super-resolution microscopy techniques presents comparative, in-depth analyses of the strengths and weaknesses of the individual approaches. It was written for non-experts who need to understand the principles of super-resolution or who wish to use recently commercialized instruments as well as for professionals...
New York: Springer, 2022. — 153 p. This issue of Direction focuses on the rapid proliferation of electron microscopy (EM) for scientific as well as technological research. The content written by leading experts is intended to provide the capabilities of EM facilities, set at Indian Institute of Technology (IIT) Kanpur to solve various problems and caters to the needs of both...
World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd., UK, USA, 2013. – 619 p. – ISBN: 9814434701 Efficiency and life time of solar cells, energy and power density of the batteries, and costs of the fuel cells alike cannot be improved unless the complex electronic, optoelectronic, and ionic mechanisms underpinning operation of these materials and devices are understood on the nanometer...
Wiley-VCH, 2010, 261p.
Chirality at metal surfaces
The template route to nanostructured model catalysts
In situ STM studies of model catalysts
Theory of scanning tunneling microscopy and applications in catalysis
Characterization and modification of electrode surfaces by in situ STM
STM imaging of oxide nanolayer model systems
Surface mobility of atoms and molecules studied...
143 p. Springer Briefs in Applied Sciences and Technology 2018 Springer Nature Singapore Pte Ltd. 1 Introduction 2 Developments in Field Emission Gun Technologies and Advanced Detection Systems 2.1 Cold-Field Emission Technology 2.2 CFE-SEM for Low Voltage Microscopy 2.3 Scanning Transmission Microscopy in the SEM 3 Electron Detection Strategies for High Resolution Imaging:...
Springer International Publishing, Switzerland, 2016. — 543 p. — ISBN: 978-3-319-26649-7 This text is a companion volume to Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science by Williams and Carter. The aim is to extend the discussion of certain topics that are either rapidly changing at this time or that would benefit from more detailed discussion than space...
Taylor & Francis, 2001 (Transferred to Digital Printing 2008). — 185 p. — (Microscopy Handbooks 47). — ISBN: 1-85996-1479. This book is a practical guide to electron diffraction in the transmission electron microscope (TEM). Case studies and examples are used to provide an invaluable introduction to the subject for those new to the technique. The book explains the basic methods...
3 edition.- New York: Oxford University Press, 2021.- lxxi, 452 p. The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic force microscope (AFM), it provides non-destructive atomic and subatomic resolution on surfaces. Especially, in recent years, internal details of atomic and molecular...
3 edition.- New York: Oxford University Press, 2021.- lxxi, 452 p. The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic force microscope (AFM), it provides non-destructive atomic and subatomic resolution on surfaces. Especially, in recent years, internal details of atomic and molecular...
2nd Edition. — Oxford, USA: Oxford University Press, 2008. — 489 p. — (Monographs on the Physics and Chemistry of Materials 64). — ISBN: 0199211507. The scanning tunneling microscope and the atomic force microscope, both capable of imaging and manipulating individual atoms, were crowned with the Nobel Prize in Physics in 1986, and are the cornerstones of nanotechnology today....
CRC Press; Taylor & Francis Group, 2016. — 603 p. — (Series in Cellular and Clinical Imaging). — ISBN13: 978-1-4398-6766-2. In 1928, the Indian scientist C.V. Raman and his collaborator K.S. Krishnan reported their discovery of inelastic scattering of light by molecules in a short article in Nature [1]. This phenomenon, which later bore Raman’s name, was characterized in his...
Woodhead Publishing, CRC Press, 2002, 459 pages, ISBN: 1855735873 0849315522 This work provides an overview of and practical guide to the various computer-aided microscopical techniques used in materials science. This book could be considered a kind of ‘cook-book’ – a cook-book for any reader who is interested in image processing and microscopy as a means to a materials science...
Springer, Heidelberg, 2011, 244 pages In the last decade, fluorescence microscopy has evolved from a classical retrospective microscopy approach into an advanced imaging technique that allows the observation of cellular activities in living cells with increased resolution and dimensions. A bright new future has arrived as the nano era has placed a whole new array of tools in...
Springer, 2009, 330p. Sample Collection and Selection Sample Preparation Tools Sample Support Sample Embedding and Mounting Sample Exposure Sample Dehydration Sample Stabilization for Imaging in the SEM. Sample Stabilization to Preserve Chemical Identity Sample Cleaning Sample Surface Charge Elimination Sample Artifacts and Damage Additional Sources of Information
Springer, 2005, 202p. An Introduction to Microscopy Limitations of the Human Eye The Light-Optical Microscope The X-ray Microscope The Transmission Electron Microscope The Scanning Electron Microscope Scanning Transmission Electron Microscope Analytical Electron Microscopy Scanning-Probe Microscopes Electron Optics PropertiesofanIdealImage ImaginginLightOptics...
2nd Edition. – Springer, 2016. – 203 p. – ISBN: 3319398768, 1441938370 Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book introduces current theory and practice of electron microscopy,...
Springer, 2011. — 372 p. — (Springer Series in Surface Sciences 46).
This book deals with the latest achievements in the field of optical coherent microscopy. While many other books exist on microscopy and imaging, this book provides a unique resource dedicated solely to this subject. Similarly, many books describe applications of holography, interferometry and speckle to...
Wiley, 2019. - 946 p. The go‐to resource for microscopists on biological applications of field emission gun scanning electron microscopy (FEGSEM) The evolution of scanning electron microscopy technologies and capability over the past few years has revolutionized the biological imaging capabilities of the microscope—giving it the capability to examine surface structures of...
Springer, 2006. - 292 p. - Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scratch the theory behind today’s simulation techniques and gives examples of theoretical concepts through...
Third Edition – Berlin: Springer-Verlag. – 2008. – 770 p. Materials are important to mankind because of their properties such as electrical conductivity, strength, magnetization, toughness, chemical reactivity, and numerous others. All these properties originate with the internal structures of materials. Structural features of materials include their types of atoms, the local...
4th ed. — Springer, 2013. — 764 p. — (Graduate Texts in Physics). — ISBN: 978-3-642-29761-8, 978-3-642-43315-3, 978-3-642-29760-1.
This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography,...
BIOS Scientific Publishers Limited, 2003, 151p. History Principles The energy-dispersive X-ray detector Spectral processing Energy-dispersive X-ray microanalysis in the scanning electron microscope X-ray microanalysis in the transmission electron microscope X-ray mapping Energy-dispersive X-ray analysis compared with other techniques
3 ed. , Kluwer, 2003, 689p. The SEM and Its Modes of Operation Electron Beam Specimen Interactions Image Formation and Interpretation Special Topics in Scanning Electron Microscopy Generation of X Rays in the SEM Specimen X-Ray Spectral Measurement: EDS and WDS Qualitative X-Ray Analysis Quantitative X-Ray Analysis: The Basics Special Topics in Electron Beam X-Ray Microanalysis...
4th Edition. — Springer Science+Business Media LLC, 2018. — 554 p. — ISBN: 149396674X. This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis...
4th Edition. — Springer Science+Business Media LLC, 2018. — 554 p. — ISBN: 149396674X. This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis...
3d edition, Taylor&Francis, 2001, 265p.
Microscopy with light and electrons
Electrons and their interaction with the specimen
Electron diffraction
The transmission electron microscope
The scanning electron microscope
Chemical analysis in the electron microscope
Electron microscopy and other techniques
Cambridge University Press, 2003, 718p.
Basic crystallography
Basic quantum mechanics, Bragg’s Law and other tools
The transmission electron microscope
Getting started
Dynamical electron scattering in perfect crystals
Two-beam theory in defect-free crystals
Systematic row and zone axis orientations
Defects in crystals
Electron diffraction patterns
Phase contrast...
Publisher Academic Press, 2005 — 296 p.
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography,...
Springer. 2007. 1332 p.
Volume 1
Imaging with Electrons
Atomic Resolution Transmission Electron Microscopy
Scanning Transmission Electron Microscopy
Scanning Electron Mocroscopy
Analytical Electron Microscopy
Hiigh-Speed Electron Microscopy
In Situ Transmission Electron Microscopy
Cryoelectron Tomography (CET)
LEEM and SPLEEM
Photoemission Electron Microscopy (PEEM)...
Springer, 2019. — 1561 p. — ISBN: 978-3-030-00068-4. This book features reviews by leading experts on the methods and applications of modern forms of microscopy. The recent awards of Nobel Prizes awarded for super-resolution optical microscopy and cryo-electron microscopy have demonstrated the rich scientific opportunitiesfor research in novel microscopies. Earlier Nobel Prizes...
Springer International Publishing, Switzerland, 2016. — 536 p. — (NanoScience and Technology) — ISBN: 9783319419886 This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. It also provides first hand information on nanofabrication and high resolution imaging. Relevant theoretical models and the...
ThermoMicroscopes. 2000. p. 80
This booklet was written to help to learn about SPMs, a process that should begin with a thorough understanding of the basics. Issues covered in this booklet range from fundamental physics of SPMs to their practical capabilities and instrumentation. Examples of applications are included throughout the text, and several application-specific...
Cambridge University Press, 2020. — 595 p. — (Advances in Microscopy and Microanalysis). — ISBN: 978-1-107-07657-0. Written by a pioneer in the field, this text provides a complete introduction to X-ray microscopy, providing all of the technical background required to use, understand and even develop X-ray microscopes. Starting from the basics of X-ray physics and focusing...
ExLi4EvA, 2016. – 293 p. – ISBN: 9535122525. This book brings a broad review of recent global developments in theory, instrumentation, and practical applications of electron microscopy. The book was created by 13 contributions from experts in different fields of electron microscopy and technology from over 20 research institutes worldwide. Electron Diffraction Spatiotemporal...
2nd Edition. — Springer, 2018. — 371 p. — ISBN: 978-3-319-97453-8. Basic Confocal Microscopy, Second Edition builds on the successful first edition by keeping the same format and reflecting relevant changes and recent developments in this still-burgeoning field. This format is based on the Confocal Microscopy Workshop that has been taught by several of the authors for nearly 20...
Springer. – New York, Heidelberg, Dordrecht, London, 2013, 64 pages, ISBN: 978-1-4614-8659-6, DOI: 10.1007/978-1-4614-8660-2. The scanning electron microscope (SEM) has become the most widely used high performance microscope. However because of the fundamental limitations of electron beams the new technology of ion beam microscopy is being developed. Because it supports...
Springer Science+Business Media, LLC, 2011. – 575 p. – ISBN: 144196567X The goal of this book is to provide a general overview of the rapidly developing field of novel scanning probe microscopy (SPM) techniques for characterization of a wide range of functional materials, including complex oxides, biopolymers, and semiconductors. Many recent advances in condensed matter physics...
De Gruyter, 2024. — 166 p. — ISBN 978-3-11-144933-3 Recent advancements in Transmission Electron Microscopy is built upon the remarkable achievements of the transmission electron microscope, especially, with the aberration corrected object lens, which itself is the incoherent integration of the particle electron optics and modern wave imaging technology.This involves the...
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006- P.296 The series NanoScience and Technology is focused on the fascinating nano-world, mesoscopic physics, analysis with atomic resolution, nano and quantum-effect devices, nanomechanics and atomic-scale processes. All the basic aspects and technology-oriented developments in this emerging discipline are covered by comprehensive and...
InTech, 2012, 830 pages, ISBN: 9535100928 9789535100928 The book’s approach covers both theoretical and practical issues related to scanning electron microscopy. The book divided into six sections: Instrumentation, Methodology, Biology, Medicine, Material Science, Nanostructured materials for Electronic Industry, Thin Films, Membranes, Ceramic, Geoscience, and Mineralogy....
ITAvE. – 2016. 391 Pages. – ISBN: 9535104500. This book contains a collection of research articles submitted by engineers and scientists to present an overview of different aspects of the Transmission Electron Microscope (TEM) from the basic mechanisms and diagnosis to the latest advancements in the field. The book presents descriptions of electron microscopy, models for...
Springer Science+Business Media, 2011, 237 pages Digital holography is an emerging field of new paradigm in general imaging applications. By replacing the photochemical procedures with electronic imaging and having a direct numerical access to the complex optical field, a wide range of new imaging capabilities become available, many of them difficult or infeasible in...
Wiley, 2013. — 422 p. A comprehensive introduction to advanced fluorescence microscopy methods and their applications. This is the first title on the topic designed specifically to allow students and researchers with little background in physics to understand both microscopy basics and novel light microscopy techniques. The book is written by renowned experts and pioneers in...
2nd Edition. — Wiley-VCH Verlag GmbH & Co., Weinheim, Germany, 2017. — 495 p. — ISBN: 9783527338375. While there are many publications on the topic written by experts for experts, this text is specifically designed to allow advanced students and researchers with no background in physics to comprehend novel fluorescence microscopy techniques. This second edition features new...
InTech, 2013, 234 pages, ISBN: 9535110569 9789535110569 This volume describes the use of laser confocal techniques to address diverse questions in medicine, biology, and the non-biological sciences. This volume will inspire a cross-fertilization of ideas within the community that utilizes laser confocal microscopy. The range of applications described in this book within...
Springer, 2019. — 171 p. — ISBN: 978-3-030-05392-5. This book offers a beginner’s guide to using light microscopes. It begins with a brief introduction to the physics of optics, which will give the reader a basic grasp of the behaviors of light. In turn, each part of the microscope is explained using clear and simple English, together withdetailed photographs and diagrams. The...
MJP Publishers, 2017. — 460 p. — ISBN: 978-81-8094-035-4. The microscope is the instrument most used by biologists, and students are introduced to it even at higher secondary school level. However, it is surprising to find that very few are aware of its construction, optical properties and the proper care and use of the same. Even at the secondary school level, students of...
2nd Edition. — Cambridge University Press, 2019. — 473 p. — ISBN: 1108428309. This fully updated, self-contained textbook covering modern optical microscopy equips students with a solid understanding of the theory underlying a range of advanced techniques. Two new chapters cover pump-probe techniques, and imaging in scattering media, and additional material throughout covers...
Cham: Springer Nature, 2021. — 330 p. Written by three leading experts in the field, this textbook describes and explains all aspects of the scanning probe microscopy. Emphasis is placed on the experimental design and procedures required to optimize the performance of the various methods. Scanning Probe Microscopy covers not only the physical principles behind scanning probe...
ITexLi, 2022. — 145 p. — ISBN 1803559462 9781803559469 1803559454 9781803559452 1803559470 9781803559476. This book provides an overview of the principles and types of electron microscopes. It also describes the different practical applications of electron microscopes, ranging from particle analysis and materials characterization to industrial failure analysis and process...
Springer; Berlin, 1 edition, 2008, 473 p.
There are many books on electron microscopy, however, the study of polymers using EM necessitates special techniques, precautions and preparation methods, including ultramicrotomy. This book discusses the general characteristics of the various techniques of EM, including scanning force microscopy (AFM). The application of these techniques...
Springer, 2014. - 218 pp. This book starts at an introductory level and leads reader to the most advanced topics in fluorescence imaging and super-resolution techniques that have enabled new developments such as nanobioimaging, multiphoton microscopy, nanometrology and nanosensors. The interdisciplinary subject of fluorescence microscopy and imaging requires complete knowledge...
Paris: SFμ, 2002. — 433 p. — (Monograph of the French Society of Microscopies). — ISBN 2-901483-05-4. Electrons are indeed incredible particles! They are not only responsible for the cohesion and the properties of condensed matter but furthermore, they are easily produced, accelerated and, when aimed at a specimen, they interact strongly with it and are scattered, yielding a...
Copenhagen: Bookboon Learning, 2017. — 202 p. This book looks at electron microscopy in a comprehensive way covering different types of microscope (SEM, TEM, etc.) and operating mode (HREM, CBED, HAADF, EELS, etc.). It is not a textbook but a student companion. In addition to explaining the subject, it selects important terminology and explain further, keeping in mind the level...
2nd Edition. - Wiley, 2013. - 554 p. - Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging, Second Edition provides a coherent introduction to the principles and applications of the integrated optical microscope system, covering both theoretical and practical considerations. It expands and updates discussions of multi-spectral imaging, intensified digital cameras, signal...
Springer, 2022. — 328 p. This textbook is an excellent guide to microscopy for students and scientists, who use microscopy as one of their primary research and analysis tool in the laboratory. The book covers key microscopy principles and explains the various techniques such as epifluorescence microscopy, confocal/live cell imaging, SIM/light sheet microscopy, and many more....
Humana Press. 1998. 429 p.
An Introduction to Confocal Imaging
Practical Considerations for Collecting Confocal Images
Fluorescent Probes for Confocal Microscopy
Imaging Gene Expression Using Antibody Probes
Single and Double FISH Protocols for Drosophila
Confocal Microscopy of Plant Cells
Preparation of Yeast Cells for Confocal Microscopy
Confocal Methods for...
Springer New York, 985 стр, 2006, Ed.3 Второя (обязательная) часть - /file/4219029/ Includes detailed descriptions and in-depth comparisons of parts of the microscope itself Covers dyes and techniques of 3D specimen prep, as well as digital data acquisition Addresses the fundamental limitations and practical complexities of quantitative confocal fluorescence imaging This is the...
Springer New York, 985 стр, 2006, Ed.3 Первая (обязательная) часть - /file/4219028/ Includes detailed descriptions and in-depth comparisons of parts of the microscope itself Covers dyes and techniques of 3D specimen prep, as well as digital data acquisition Addresses the fundamental limitations and practical complexities of quantitative confocal fluorescence imaging This is the...
Springer New York, 2011 - 762 p. Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the editors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis provides a comprehensive explanation of the...
John Wiley & Sons, 2006, 368p. The Auger Process Instrumentation The Spatial Resolution Forming an Auger Image Image Processing and Interpretation Quantification of Auger Images Applications: Materials Science Applications: Semiconductor Manufacturing Concluding Remarks
Published in the United States of America by Cambridge University Press, New York Second edition 2005 216 p. Electron microprobe analysis Scanning electron microscopy Geological applications of SEM and EMPA Related techniques Electron–specimen interactions Inelastic scattering Electron range Elastic scattering Secondary-electron emission X-ray production X-ray absorption The...
Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995. – 435 p. – ISBN: 9783662140550 Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy (EFTEM) presents a summary of the electron optics, the electron-specimen interactions, and the operation and contrast modes of this new field of analytical electron microscopy. The electron optics of filter lenses and the progress in the correction of...
2nd completely rev. ed. — New York, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 1998. — 541 p. ISBN: 3540639764 Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger...
5th ed. — Springer, 2008, 602p. TransmissionElectronMicroscopy Alternative Types of Electron Microscopy Particle Optics of Electrons Acceleration and Deflection of Electrons ElectronLenses Lens Aberrations Correction of Aberrations and Microscope Alignment Wave Optics of Electrons ElectronWavesandPhaseShifts Fresnel and Fraunhofer Diffraction Wave-Optical Formulation of Imaging...
Cambridge Scholars Publishing, 2021. — 391 p. — ISBN 978-1-5275-6784-9. Raman microscopy is now well-established as one of the most powerful and versatile techniques for a diverse range of applications in both research and analytical laboratories. Its unique advantage is its ability to noninvasively characterize chemically complex and spatially inhomogeneous samples with a...
Wiley, 2019. — 848 p. — ISBN: 978-1-118-69674-3. Introduces readers to the enlightening world of the modern light microscope There have been rapid advances in science and technology over the last decade, and the light microscope, together with the information that it gives about the image, has changed too. Yet the fundamental principles of setting up and using a microscope...
Wiley, 2019. — 848 p. — ISBN: 978-1-118-69674-3. Introduces readers to the enlightening world of the modern light microscope There have been rapid advances in science and technology over the last decade, and the light microscope, together with the information that it gives about the image, has changed too. Yet the fundamental principles of setting up and using a microscope...
NY:Springer, 2008. - 322 p Biological Low Voltage Scanning Electron Microscopy covers many aspects of specimen preparation and provides specific protocols for practical applications that are commonly not available in research papers. It also gives general as well as detailed insights into the theoretical aspects of LVSEM. The book is intended for a large audience as a reference...
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 2010, 243 pages, ISBN: 0819480959 Knowledge of microscope design is rapidly becoming more important. Microscopes are used in critical applications such as drug development, clinical tests, and genomics. Considerable expertise is required for the evaluation, design, and manufacture of these instruments. Several subsystems must...
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2010 — 182p. — (Springer Series in Surface Sciences 45) — ISBN: 978-3-642-03160-1 (eBook), 978-3-642-26168-8 (Softcover), 978-3-642-03159-5 (Hardcover). In modern scanning electron microscopy, sample surface preparation is of key importance, just as it is in transmission electron microscopy. With the procedures for sample surface preparation...
Springer, 2025. — 335 p. — ISBN-13 978-3031829666 This book is a thorough guide tailored for researchers, academics, and practitioners immersed in the intricate world of Transmission Electron Microscopy (TEM). It offers a seamless blend of theoretical understanding and practical insights, providing readers with the essential skills to navigate the complexities of TEM sample...
Springer, 2019. — 164 p. — (Springer Theses). — ISBN: 978-3-030-30812-4. The thesis tackles one of the most difficult problems of modern nanoscale science and technology - exploring what governs thermal phenomena at the nanoscale, how to measure the temperatures in devices just a few atoms across, and how to manage heat transport on these length scales. Nanoscale heat generated...
ExLi4EvA, 2016. — 437 p. — ISBN: 9535125796; 9535125788 This volume includes a series of chapters that address highly significant scientific subjects from diverse areas of microscopy and analysis. Authoritative voices in their fields present in this volume their work or review recent trends, concepts, and applications, in a manner that is accessible to a broad readership...
Bentham Science Publishers, 2017. — 751 p. Fluorescence Microscopy is a precise and widely employed technique in many research and clinical areas nowadays. Fluorescence Microscopy In Life Sciences introduces readers to both the fundamentals and the applications of fluorescence microscopy in the biomedical field as well as biological research. Readers will learn about physical...
John Wiley & Sons, Ltd., 2008. — 231 p. — ISBN: 9780470065402. Scanning electron microscopy (SEM) is a technique of major importance and is widely used throughout the scientific and technological communities. The modern scanning electron microscope is capable of imaging details of the order of tens of Angstroms (i.e. sub-nanometre), subject to the limits of electron–specimen...
Trans Tech Publications, Switzerland, 2012. — 413 p. — (Solid State Phenomena 186) — ISBN: 3037952040. Electron Microscopy XIV. Selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland.The goal of this issue is to provide researchers the latest advances in the field of structural studies, regarding the...
Springer, 2023. — 378 p. — ISBN 978-981-19-6844-0. This book focuses on in-situ transmission electron microscopy (TEM), an investigatory technique used to observe a sample’s response to a given stimulus (including electron irradiation, thermal excitation, mechanical force, optical excitation, electric and magnetic fields) at the nanoscale in real time. The book introduces...
Springer, 2015. - 204 p. - This thesis reports on the development of the first quantum enhanced microscope and on its applications in biological microscopy. The first quantum particle-tracking microscope, described in detail here, represents a pioneering advance in quantum microscopy, which is shown to be a powerful and relevant technique for future applications in science and...
Wiley, 2012. - 647 p. Well-structured and adopting a pedagogical approach, this self-contained monograph covers the fundamentals of scanning probe microscopy, showing how to use the techniques for investigating physical and chemical properties on the nanoscale and how they can be used for a wide range of soft materials. It concludes with a section on the latest techniques in...
Elsevier, Amsterdam, 1996, Pages: 463 One of the first books devoted entirely to the subject of Raman microscopy, this volume addresses issues of great interest to engineers working in Raman-microscope development and researchers concerned with areas ofapplication for this science. The book is written by several world recognized experts, who summarize the Raman effect before...
Springer, 2018. — 421 p. — ISBN: 3319984810. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to...
Springer, 2018. — 421 p. — ISBN: 3319984810. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to...
Springer, 2012. — 190 p. — (Nanostructure Science and Technology). — ISBN: 978-1-4614-2190-0. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of...
Cambridge University Press, 1996, 436 p. Symbols and definitions Kinematical electron diffraction Reflection high-energy electron diffraction Dynamical theories of RHEED Resonance reflections in RHEED Imaging surfaces in TEM Contrast mechanisms of reflected electron imaging Applications of UHV REM Applications of non-UHV REM Phonon scattering in RHEED Valence excitation in...
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 1994 — 2nd Ed. — 280p. — (Springer Series in Surface Sciences 20) — ISBN: 978-3-642-79255-7 (eBook), 978-3-540-58415-5 (Softcover). Since the first edition of "Scanning 'funneling Microscopy I" has been pub lished, considerable progress has been made in the application of STM to the various classes of materials treated in this volume, most...
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 1995 — 2nd Ed. — 349p. — (Springer Series in Surface Sciences 28) — ISBN: 978-3-642-79366-0 (eBook), 978-3-540-58589-3 (Softcover). Scanning Tunneling Microscopy II, like its predecessor, presents detailed and comprehensive accounts of the basic principles and broad range of applications of STM and related scanning probe techniques. The...
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 1996 — 2nd Ed. — 402p. — (Springer Series in Surface Sciences 29) — ISBN: 978-3-642-80118-1 (eBook), 978-3-540-60824-0 (Softcover). Scanning Tunneling Microscopy III provides a unique introduction to the theoretical foundations of scanning tunneling microscopy and related scanning probe methods. The different theoretical concepts developed in...
2nd ed. , Springer, 2009. - 832 p. = BASICS The Transmission Electron Microscope Scattering and Diffraction Elastic Scattering Inelastic Scattering and Beam Damage Electron Sources Lenses, Apertures, and Resolution How to ‘See’ Electrons Pumps and Holders The Instrument Specimen Preparation = DIFFRACTION Diffraction in TEM Thinking in Reciprocal Space Diffracted Beams...
1996, 1-173 p.
Первая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии.
Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that...
1996, 177-347 p.
Вторая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии.
Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook...
1996, 349-550 p.
Третья часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии.
Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook...
1996, 553-720 p.
Четвертая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии.
Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook...
Springer, 1990. - 294 p. - The main purpose of the book is to outline the applications of cathodoluminescence techniques in the assessment of optical and electronic properties of inorganic solids, such as semiconductors, phosphors, ceramics, and minerals. The assessment provides, for example, information on impurity levels derived from cathodoluminescence spectroscopy, analysis...
Academic Press, 2020. — 555p. — ISBN: 978-0-12-818573-5. This book provides information on the fundamentals of ultra-high vacuum systems. It covers the very subtle process that can help increase pressure inside the microscope (or inside any other ultra-high vacuum system) and the different behavior of the molecules contributing to this kind of process. Prof Yoshimura’s book...
Artech House, 2009. — 361 p. ISBN13: 978-1-59693-283-8 This book is concerned with a new approach, near-field microscopy, which has opened up optical processes on the nanoscale for direct inspection. The subsequent progress in near-field microscopy has led to the development of the new area of research of nano-optics, which is concerned with the interaction of light and matter...
Imperial College Press, 2010, 341 pages, ISBN: 1848164009, 1848163908 The modern electron microscope, as a result of recent revolutionary developments and many evolutionary ones, now yields a wealth of quantitative knowledge pertaining to structure, dynamics, and function barely matched by any other single scientific instrument. It is also poised to contribute much new...
Springer-Verlag New York, 2017 — 729p. — ISBN: 978-1-4939-6607-3 (eBook), 978-1-4939-6605-9 (Hardcover). This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction . As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission...
Учебное пособие. — СПб.: Изд-во Политехн. ун-та, 2012. — 179 с. Системно излагаются основы сканирующей зондовой микроскопии. Основное внимание уделяется особенностям исследования биомолекулярных систем. Даются методики работы зондовых микроскопов. Приводится инновационный подход к объективному выбору зондовых методов применительно к специфике объекта исследования. Приводятся...
Монографія. — К.: НТТУ «КПІ», 2013. — 332 с. Вступ Історія розвитку методів та засобів мікроскопії Оптична мікроскопія та профілометрія Електронна мікроскопія Зондова мікроскопія Роль мікроскопії в науці та техніці Методологія та технічні засоби оптичної мікроскопії Загальна будова оптичних мікроскопів Принципові схеми оптичних мікроскопів Біологічні мікроскопи, що працюють на...
Пер. с 3-го нем. изд. 1955 г. — М.: Медгиз, 1959. — 426 с. Основы микроскопической оптики Основные сведения об объективе и окуляре Микроскоп может обманывать. Исследование уве-личительной оптики Источники света для микроскопии Микроскопия в проходящем свете по методу светлого поля Микроскопия, в проходящем свете по методу темного поля и ультрамикроскопия Микроскопия в падающем...
Монография. — Харьков: НТУ "ХПІ", 2014. — 304 с. Монография посвящена результатам электронно-микроскопических исследований структуры пленок и закономерностям ее формирования при дискретном осаждении на подложку пароплазменных потоков, сформированных импульсным лазерным распылением металлических и полупроводниковых мишеней. Также приведены результаты исследований структурных и...
Сборник лабораторных работ и задач с решениями. — Х.: НТУ «ХПІ», 2015. — 228 с. В сборнике приведены 8 лабораторных работ, 31 задача с подробными решениями и 15 задач для самостоятельного решения, касающихся основных разделов просвечивающей электронной микроскопии. Приложение содержит описание и листинги программ, которые использованы в лабораторных работах 6, 7 и 8....
Москва; Ижевск: Регулярная и хаотическая динамика, 2010. — 196 с. — ISBN 978-5-93972-811-9. Магнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) - быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-e годы и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичногo электрона, находящегося внутри непрозрачногo твердогo вещества. Дальнейшее развитие методов...
М.: Знание, 1988. — 64 с. В сборник включены переводы лекций нобелевских лауреатов 1986 года: Герда Биннига, Генриха Рорера и Эрнста Руски, посвященные созданию электронного микроскопа и изобретению нового класса микроскопов - сканирующего туннельного микроскопа.
Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2020. — 412 с. В книге описаны основные функции зрения, история микроскопии, теория образования изображения и предел разрешения микроскопа. Приведены основные сведения из области поляризации, интерференции, люминесценции и спектрофотометрии, необходимые для выбора метода исследования и интерпретации полученных результатов. Описаны...
Учебное пособие. — СПб: Университет ИТМО, 2018. — 133 с. Учебное пособие предназначено для бакалавров факультета фотоники и оптоинформатики, обучающихся по программе подготовки «Физика наноструктур» по направлению подготовки 12.03.03 «Фотоника и оптоинформатика», обучающихся по дисциплинам «Методы и техника микроскопии», «Методы и техника физического эксперимента в...
Учебное пособие. — СПб.: Университет ИТМО, 2020. — 248 с. Учебное пособие предназначено для углубленного изучения основ традиционной микроскопии и рекомендуется бакалаврам факультета фотоники и оптоинформатики, обучающимся по программе подготовки «Физика наноструктур» по направлению подготовки 12.03.03 «Фотоника и оптоинформатика» по дисциплинам «Методы и техника микроскопии»,...
Учебно-методическое пособие. М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. – 168 с. : ил. (Библиотека «Наноинженерия» : в 17 кн. Кн. 11). Методические материалы по дисциплине «Электронная микроскопия» содержат нормативную базу дисциплины, рекомендации по организации и проведению лекций, практических занятий, семинаров, лабораторных работ и деловых игр, перечень учебных видео- и...
Пер. с англ. — Под ред. В. Н. Верцнера. — Л.: Машиностроение, Ленинградское отделение, 1980. — 375 с.: ил. В книге изложены методики приготовления образцов для просвечивающего электронного микроскопа, а также описаны оптические дифракторы и методы анализа электронных изображений; приведены способы улучшения изображений, получаемых в электронном микроскопе, фотографическими...
Пер. с англ. — Под ред. В. Н. Верцнера. — Л.: Машиностроение, Ленинградское отделение, 1980. — 375 с.: ил. В книге изложены методики приготовления образцов для просвечивающего электронного микроскопа, а также описаны оптические дифракторы и методы анализа электронных изображений; приведены способы улучшения изображений, получаемых в электронном микроскопе, фотографическими...
М: Мир, 1978. — 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более...
Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. — В 2-х книгах. — Пер. с англ. Р.С. Гвоздовер и Л.Ф. Комоловой, под ред. канд. физ.-мат. наук В.И. Петрова. — М.: Мир, 1984. — 303 с.: ил. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа....
Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. — В 2-х книгах. — Пер. с англ. Р.С. Гвоздовер и Л.Ф. Комоловой, под ред. канд. физ.-мат. наук В.И. Петрова. — М.: Мир, 1984. — 349 с.: ил. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также...
М.: Мир, 1984. — 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение,...
М.: Мир, 1984. — 349 с. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических...
Учебное пособие. — Омск: ОмГТУ, 2019. — 104 с.: ил. В учебном пособии изложены основы и особенности применения зондовой микроскопии для исследований биологических объектов. Приведены сведения о живых объектах исследования, направления применения нанобиотехнологии и наномедицины. Разработано в соответствии с Федеральным государственным образовательным стандартом высшего...
Киев: Наукова думка, 1974. — 268 с. Элементы электронной оптики Физические основы электроннозондовой техники Электронные микроскопы с неподвижным зондом Устройства со сканирующим электронным зондом Применения электроннозондовых устройств
Киев: Наукова думка, 1974. — 268 с. В этой книге предпринята попытка обобщить наиболее важные сведения о физических основах электроннозондовой техники, принципах действия, конструктивных особенностях и информационных возможностях различных устройств этого типа, в том числе традиционных электронных микроскопов и относительно новых устройств со сканирующим лучом. Элементы...
Аналитическая микроскопия, 2003. — 47 с. Небольшое по объему пособие по световым микроскопам предназначено для первого знакомства с оптическими микроскопами. Профессиональная работа на микроскопах требует прежде всего знаний в области одного из сложных разделов физики – геометрической и физической оптики и инженерных знаний в области точных механических устройств. В сочетании...
Учебное пособие. — М.: МФТИ, 2011. — 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения,...
Долгопрудный: Интеллект, 2013. — 326 с.: 48 цв. ил. — ISBN: 978-5-91559-102-7. Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии - проф. Ахмедом Зевайлем из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном Томасом из Оксфордского Университета. Учебное пособие посвящено последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют...
М.: Техносфера, 2007. — 375 с. — ISBN: 978-5-94836-121-5 За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических...
М.: koltovoi.nethouse.ru, 2019. — 280 с. Каталог различных моделей поляризационных микроскопов отечественных и зарубежных фирм. История создания поляризационных микроскопов. Российские поляризационные микроскопы. Микроскопы поляризационные МП, завод ООМЗ, «Русские Самоцветы». 1949-1962. Микроскопы поляризационные МИН-1(-7), завод Прогресс, 1939-1962. Микроскопы поляризационные,...
М.: koltovoi.nethouse.ru 2019. - 250 с. Рассматривается применение поляризационной микроскопии для исследования биологических объектов, клеток и тканей. Преимущество поляризационной микроскопии состоит в простоте метода и высокой информативности получаемых изображений. Для применения поляризационного метода не требуется дополнительных расходных материалов. Свойства...
Учебно-методическое пособие. — Минск: БГМУ, 2014. — 31 с. В издании с физической точки зрения, в доступной для студентов форме изложены принципы и конструктивные особенности, а также режимы работы оптического, электронного и атомно-силового микроскопов. Предназначено для студентов всех медицинских специальностей, изучающих медицинскую и биологическую физику на английском языке....
М.: Наука, 1976. — 168 c. В сборнике показаны уровень и результаты исследований в области создания и совершенствования методов и средств тепловой микроскопии и изучения строения и свойств металлов и сплавов при механическом нагружении и тепловом воздействии. Приведены сведения о новой аппаратуре для низко- и высокотемпературного деформирования при статическом и циклическом...
М.: АН СССР, 1960. — 272 c. В развитии электронной микроскопии можно различать три периода. Со времени появления первого электронного микроскопа просвечивающего типа в 1932 г. и до 1940 г продолжался первый период, когда основное внимание было сосредоточено на улучшении конструкции приборов и разработке простейших методик препарирования.
Москва: Техносфера, 2005. — 144 с. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ),...
М.: Техносфера, 2005. — 144 с. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ),...
Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. — Нижний Новгород: Российская академия наук, Институт физики микроструктур, 2004. — 110 с. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии...
2-е издание. — Москва: Юрайт, 2021. — 84 с. — ISBN 978-5-534-14415-4. Пособие состоит из вводной части, освещающей историю возникновения и основные принципы электронной микроскопии; основной части, содержащей иллюстрированный обзор методик и подробные протоколы пробоподготовки различных биологических объектов, и заключительной части с общими рекомендациями и списком литературы,...
М.: Наука, 2011. — 139 с. — ISBN: 978-5-02-037483-6. В практическом пособии описаны принципы и области применения: классической световой и флуоресцентной микроскопии; методов контрастирования изображения; лазерной конфокальной сканирующей микроскопии (в однофотонном и мультифотонном варианте); подходов к увеличению разрешающей способности микроскопа, таких как TIRF, STED и 4-π...
М.: Наука, 1980. — 220 с. Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации,...
Учебное пособие. — Самара: Самарский университет, 2004. — 244 с. Учебное пособие посвящено физическим основам метода просвечивающей электронной микроскопии и практическим приемам работы на электронных микроскопах. Оно содержит важнейшие приложения дифракции электронов, а также начала теории электронно-микроскопического контраста в кинематическом и динамическом приближениях....
Москва: Техносфера, 2005. — 304 с. С появлением микроскопа открылась возможность увидеть «невидимое», а с появлением видеокамер и компьютера стало возможным зафиксировать полученные данные и проанализировать их с целью получения объективной количественной информации. В результате соединения этих составляющих был разработан новый прибор — анализатор изображений. За последние 10...
Москва: Техносфера, 2005. — 304 с. С появлением микроскопа открылась возможность увидеть «невидимое», а с появлением видеокамер и компьютера стало возможным зафиксировать полученные данные и проанализировать их с целью получения объективной количественной информации. В результате соединения этих составляющих был разработан новый прибор — анализатор изображений. За последние 10...
К.: Техніка, 1976. — 168 с. Скан разворотами Изложены основные представления электронной геометрической оптики, рассмотрен принцип действия электростатических и электромагнитных электронных линз и основные виды их аберраций, а также конструкции линз и их взаимодействие в оптической системе электронных микроскопов просвечивающего типа. Особое внимание уделено практическим вопросам...
М.: Энергоиздат, 1981. — 184 с. Важнейшим инструментом для проникновения в невидимый мир молекул, атомов, атомных ядер и элементарных частиц в течение последних трех веков служит метод рассеяния электромагнитных и корпускулярных волн. Для изучения рассеяния этих волн ученые используют огромный арсенал приборов - от микроскопа до современных трековых камер. Описаны метод...
М.: Энергоиздат, 1981. — 189 с. Важнейшим инструментом для проникновения в невидимый мир молекул, атомов, атомных ядер и элементарных частиц в течение последних трех веков служит метод рассеяния электромагнитных и корпускулярных волн. Для изучения рассеяния этих волн ученые используют огромный арсенал приборов - от микроскопа до современных трековых камер. Описаны метод...
Учебное пособие. — Нижний Новгород: Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского (ННГУ), 2020. — 96 с. Учебное пособие содержит последовательное изложение физических основ растровой электронной микроскопии, принципиального устройства растрового электронного микроскопа и его функциональных элементов. Часть учебного пособия...
Монография. — Пер. с англ. C.А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе...
Монография. — Пер. с англ. C.А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе...
Ленинград: Машиностроение, 1969. — 512 с. В книге описаны геометрическая теория микроскопа и волновая теория образования в нем изображения. Приведены принципиальные оптические схемы различных типов микроскопов, рекомендации по выбору объектива и окуляра для визуального наблюдения и микрофотографирования; рассмотрены вопросы освещенности изображения и потери света в микроскопах;...
Пер. с англ. — Под ред. В.Н. Рожанского. — М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1986. — 320 с. Изложены теоретические и экспериментальные аспекты электронной микроскопии высокого разрешения. Рассмотрены физические основы формирования электронно-микроскопического изображения как периодических (кристаллические структуры), так и непериодических (отдельные...
Москва: Наука, 1981. — 136 с. — (Серия Наука и технический прогресс). За более чем трехвековую историю разрешающая способность микроскопов поднялась свыше чем на четыре порядка - теперь на экране микроскопа можно увидеть даже отдельные атомы. Ряд научных направлений своим появлением обязан микроскопии. Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии, типами и принципами...
Москва: Наука, 1981. — 136 с. — (Серия Наука и технический прогресс). За более чем трехвековую историю разрешающая способность микроскопов поднялась свыше чем на четыре порядка - теперь на экране микроскопа можно увидеть даже отдельные атомы. Ряд научных направлений своим появлением обязан микроскопии. Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии, типами и принципами...
М.: Гостехиздат, 1949. — 274 с. Книга излагает принципы работы и основные конструкции электронных микроскопов. Она содержит также подробное изложение методики использования электронных микроскопов в различных областях науки и техники. Книга предназначена для инженерно-технических работников, работающих в области электронной микроскопии, а также для работников...
М.: Гостехиздат, 1949. — 274 с. Книга излагает принципы работы и основные конструкции электронных микроскопов. Она содержит также подробное изложение методики использования электронных микроскопов в различных областях науки и техники. Книга предназначена для инженерно-технических работников, работающих в области электронной микроскопии, а также для работников...
М.: Наука, 1983. — 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М. Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к...
Навчальний посібник. — Львів : ЛНУ імені Івана Франка, 2012. — 296 с. Список скорочень Передмова Вступ Основні поняття оптичної та електронної мікроскопії Методи формування зображення Пікселі Оптичний мікроскоп Збільшення Розділення Глибина поля і глибина фокуса Аберації оптичних систем Світло та електрони Контрольні запитання і завдання Взаємодія електронного пучка з речовиною...
Описание лабораторной работы. — Н. Новгород: Нижегородский государственный университет, 2001. — 22 с. В данной лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Описание лабораторной работы подготовлено в рамках совместной Российско-Американской программы...
Москва: Государственной издательство физико-математической литературы, 1960. — 180 с. Книга посвящена использованию двух типов микроскопов - фазово-контрастному и интерференционному микроскопам.
Учебник. — Москва: Техносфера, 2011. — 904 с. — ISBN: 978-5-94836-291-5, 978-3-540-43764-2. В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления...
М.: Мир, 1966. — 471 с. : ил. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы...
Москва: Мир, 1966. — 472 с. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга известного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы...
Пер. с англ. — М.: Мир, 1968. — 575 с. Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание...
Москва: Мир, 575 страниц; 1968 г.
Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено...
М.: Мир, 1972. — 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава,...
Учебник. — Москва: Мир, 1972. — 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронномикроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения...
Москва: Техносфера, 2007. — 376 с. — ISBN 978-5-94836-121-5 За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических...
Комментарии