Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Методы исследования наноматериалов

Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов...
  • №1
  • 7,58 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
  • №2
  • 4,41 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
М.: Техносфера, 2004. — 384 с. — ISBN: 5-94836-018-0. Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели...
  • №3
  • 10,71 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2008. - 204 с. Обобщены оригинальные результаты теоретических и экспериментальных исследований автодинных режимов работы полупроводниковых лазеров. Описаны особенности формирования автодинного сигнала в условиях сильной и слабой обратной оптических связи, влияние токовой модуляции на форму и...
  • №4
  • 982,77 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Springer Science+Business Media, LLC, 2007. — 1002 p. — ISBN: 0387286675 Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental...
  • №5
  • 12,93 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
VCH, Weinheim, 1994. 163 pp. This monograph describes the application of atomic force microscopy (AFM) and scanning transmission electron microscopy (STM) to studying nanomaterials. It contains a wide array of benchmark experiments and relevant examples and extensions of the capabilities which these made available. List of Symbols and Abbreviations Scanning Tunneling Microscopy...
  • №6
  • 4,47 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Монография. — М.: Московский педагогический государственный университет (МПГУ), 2015. — 212 с.: ил. — ISBN 978-5-4263-0271-6. В монографии описывается научное направление «Диагностика макроскопических объемов твердотельных неупорядоченных сред с нанометровым пространственным разрешением по спектрам и флуоресцентным изображениям множества одиночных молекул-зондов», разработанное...
  • №7
  • 5,05 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
New York, Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2000. — 260 p. — ISBN: 0-306-46415-2 This monograph is designed to provIde researchers and students the necessary informatIon to plan and experimentally conduct an atom probe tomography experiment. The techniques required to vIsualize and to analyze the resulting three-dImensional data are also descnbed. The monograph is organized...
  • №8
  • 9,86 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Монография. Перевод с английского Иванова С.А. и Домкина К.И. под редакцией Каминской Т.П. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. — ISBN: 978-5-9963-2123-0 Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и...
  • №9
  • 12,27 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Владивосток: ИАПУ ДВО РАН, 2002. — 61 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы и аппаратура для сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Основное внимание уделяется практическим особенностям метода. Приведены экспериментальные результаты, полученные с помощью СТМ. Показана перспективность метода для анализа морфологии и структуры поверхности. Учебное пособие...
  • №10
  • 1006,43 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Монография. — Саратов: Саратовский университет, 2014. — 136 с. — ISBN 978-5-292-04232-7. Обобщены оригинальные результаты теоретических и экспериментальных исследований работы полупроводникового лазера в автодинном режиме. Описаны особенности формирования автодинного сигнала в условиях сильной и слабой обратной оптической связи, влияние токовой модуляции на форму и спектр...
  • №11
  • 807,18 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Berlin: de Gruyter, 2023. — 469 p. Nanospectroscopy addresses the spectroscopy of very small objects down to single molecules or atoms, or high-resolution spectroscopy performed on regions much smaller than the wavelength of light, revealing their local optical, electronic and chemical properties. This work highlights modern examples where optical nanospectroscopy is exploited...
  • №12
  • 7,59 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
New York: Wiley-VCH, 2022. — 516 p. In Spectroscopy and Characterization of Nanomaterials and Novel Materials: Experiments, Modeling, Simulations, and Applications, the editor Prabhakar Misra and a team of renowned contributors deliver a practical and up-to-date exploration of the characterization and applications of nanomaterials and other novel materials, including quantum...
  • №13
  • 6,83 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.