Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Марголин В.И. Основы нанотехнологии

  • Файл формата pdf
  • размером 3,46 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Марголин В.И. Основы нанотехнологии
Санкт-Петербург, СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2004. - 310 с.
Введение
Общие представления о нанотехнологии
Традиционные проблемы нанотехнологии
Фрактальная геометрия и фрактальная физика
Специфические проблемы наномира
Нанодисперсное состояние вещества
Объемные и поверхностные области с наноструктурой
Наноразмерные объекты на основе углерода
Нанометрология. Качественный и количественный анализ
Нанометрология. Топографический и структурный анализ
Применение ионных пучков для получения тонких пленок и модификации материала в нанотехнологии
Одноэлектроника
Литература
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Азаренков Н.А., Береснев В.М., Погребняк А.Д. Наноматериалы, Нанопокрытия, Нанотехнологии

  • pdf
Учебное пособие. - Харьков: ХНУ им. В. Н. Каразина, 2009. - 209 с. - Для студентов, аспирантов и научных работников. В учебном пособии приведена классификация наноразмерных структур, проанализированы их свойства. Обобщены сведения о проявлении размерных эффектов в физических, механических, термических и других свойствах наноструктурных материалов. Рассмотрены основные методы...
  • 7,96 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А., Толочко Н.К., Федосюк В.М. Наноматериалы и Нанотехнологии

  • pdf
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
  • 14,57 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

  • djvu
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
  • 4,41 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Лучинин В.В. и др. (ред.) Нанотехнология: физика, процессы, диагностика, приборы

  • djvu
М.: ФИЗМАТЛИТ, 2006. – 552 с., ISBN 5-9221-0719-4 Систематически излагается материал, охватывающий проблемы физики квантоворазмерных неорганических и биоорганических наноструктур; процессы нанотехнологии, ориентированные на формирование нанослойных систем и нанокомпозиций неорганической и органической природы, а также 3D-обработку с использованием наноразмерных пучков....
  • 10,00 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Окрепилов В.В. Стандартизация и метрология в нанотехнологиях

  • pdf
СПб.: Наука, 2008. — 260 с. Монография впервые освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону. В книге содержатся сведения о разрабатываемых международных и национальных стандартах в области наноиндустрии, совершенствовании эталонной базы, создании системы информационного обеспечения проводимых работ. Книга...
  • 5,43 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Сергеев А.Г. Введение в нанометрологию

  • pdf
Учебное пособие. - Владимир, ВлГУ, 2010. – 296 с. Пособие содержит основные сведения по метрологическому обеспечению различных технологических операций в сфере наноиндустрии. Рассмотрены становление в XX – XXI вв. и концепции развития нанометрологии. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и...
  • 5,97 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Наверх