Окрепилов В.В. Стандартизация и метрология в нанотехнологиях

СПб.: Наука, 2008. — 260 с.Монография впервые освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону.
В книге содержатся сведения о разрабатываемых международных и национальных стандартах в области наноиндустрии, совершенствовании эталонной базы, создании системы информационного обеспечения проводимых работ.
Книга предназначена для ученых и специалистов, вовлеченных в процесс разработки, производства и применения нанотехнологий, наноматериалов и другой нанопродукции, а также создающих средства измерений и разрабатывающих нормативно-технические документы в области наноиндустрии. Книга может быть полезна при обучении специалистов, связанных с нанотехнологиями, и будет интересна широкому кругу читателей, изучающих развитие науки и техники.От себя: Издание такой книги на русском языке действительно является востребованным на сегодня. Метрология и стандартизация нанотехнологий сейчас находится в зачаточном состоянии, данное издание дает представление о современных проблемах в этой области, кратко вводит читателя в курс существующих методик и технологий измерения параметров нанообъектов. Однако, не следует воспринимать данную книгу как справочник, тем более не стоит бездумно цитировать отрывки из нее в своих работах. Дело в том, что большая часть материала изложенного в книге является переводным. К сожалению, ни автор, ни редакторы не имели в жизни дела с описываемыми методами, поэтому многие термины и утверждения переведены на русский язык довольно безграмотно.
По этой причине я рекомендую в своих работах обязательно обращаться и к другим источникам информации, желательно исконно русскоязычным.