Шнайдер Х. (ред.) Надежность электронных элементов и систем

Перевод с немецкого Б.Н. Абрамова, В.А. Воротинского, В.И. Казакевича. — Москва: Мир, 1977. — 260 с.Книга содержит наиболее интересные работы, отражающие современное состояние теории и практики надежности интегральных микросхем, транзисторов, резисторов, конденсаторов, магнитомеханических фильтров, контактных соединений и систем. Рассмотрены проблема надежности и перспективы ее развития на ближайшие годы. Приведено много полезных сведений об интенсивности отказов и физических методах анализа дефектов. Значительное внимание уделено описанию неразрушающих методов контроля с использованием растрового электронного микроскопа, инфракрасных устройств визуализации теплового излучения, а также анализу шумов полупроводниковых «приборов. Большое количество «иллюстраций обеспечивает наглядность излагаемого материала.
Книга адресована специалистам в области разработки и эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры и вычислительной техники и инженерно-техническим работникам подразделений надежности различных отраслей народного хозяйства.