Echlin P. Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis

Springer, 2005, 202p. An Introduction to Microscopy Limitations of the Human Eye The Light-Optical Microscope The X-ray Microscope The Transmission Electron Microscope The Scanning Electron Microscope Scanning Transmission Electron Microscope Analytical Electron Microscopy Scanning-Probe Microscopes Electron Optics PropertiesofanIdealImage ImaginginLightOptics...

3 ed. , Kluwer, 2003, 689p. The SEM and Its Modes of Operation Electron Beam Specimen Interactions Image Formation and Interpretation Special Topics in Scanning Electron Microscopy Generation of X Rays in the SEM Specimen X-Ray Spectral Measurement: EDS and WDS Qualitative X-Ray Analysis Quantitative X-Ray Analysis: The Basics Special Topics in Electron Beam X-Ray Microanalysis...

5th ed. — Springer, 2008, 602p. TransmissionElectronMicroscopy Alternative Types of Electron Microscopy Particle Optics of Electrons Acceleration and Deflection of Electrons ElectronLenses Lens Aberrations Correction of Aberrations and Microscope Alignment Wave Optics of Electrons ElectronWavesandPhaseShifts Fresnel and Fraunhofer Diffraction Wave-Optical Formulation of Imaging...

Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...

М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...