Вторичная ионная масс-спектрометрия

Вуз, автор, год неизвестны. 14с.

Принцип и возможности метода ВИМС
Процесс распыления
Краткая теория
Анализ состава поверхности твердых тел
Анализ по глубине

Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
Регистрация

Наверх