Goodhew P.J. et al. Electron microscopy and analysis
Файл формата
pdf
размером 19,72 МБ
Добавлен пользователем oxaoxa, дата добавления неизвестна
Описание отредактировано
3d edition, Taylor&Francis, 2001, 265p. Microscopy with light and electrons Electrons and their interaction with the specimen Electron diffraction The transmission electron microscope The scanning electron microscope Chemical analysis in the electron microscope Electron microscopy and other techniques
Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
Springer, 2005, 202p. An Introduction to Microscopy Limitations of the Human Eye The Light-Optical Microscope The X-ray Microscope The Transmission Electron Microscope The Scanning Electron Microscope Scanning Transmission Electron Microscope Analytical Electron Microscopy Scanning-Probe Microscopes Electron Optics PropertiesofanIdealImage ImaginginLightOptics...
3 ed. , Kluwer, 2003, 689p. The SEM and Its Modes of Operation Electron Beam Specimen Interactions Image Formation and Interpretation Special Topics in Scanning Electron Microscopy Generation of X Rays in the SEM Specimen X-Ray Spectral Measurement: EDS and WDS Qualitative X-Ray Analysis Quantitative X-Ray Analysis: The Basics Special Topics in Electron Beam X-Ray Microanalysis...
InTech, 2012, 830 pages, ISBN: 9535100928 9789535100928 The book’s approach covers both theoretical and practical issues related to scanning electron microscopy. The book divided into six sections: Instrumentation, Methodology, Biology, Medicine, Material Science, Nanostructured materials for Electronic Industry, Thin Films, Membranes, Ceramic, Geoscience, and Mineralogy....
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
М: Мир, 1978. — 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более...
