Павлов Л.П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов

Учебник для вузов. — 2-е издание, переработанное и дополненное. — Москва: Высшая школа, 1987. — 239 с.В книге изложены основы методов измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов, рассматриваются вопросы их практической реализации; даны условия и границы применения методов измерения; проведён анализ причин возникновения погрешностей.
Для студентов специальности "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы".Предисловие.
Введение.
Измерение удельного сопротивления полупроводников
Определение параметров полупроводников путем измерения ЭДС холла и магнитосопротивления.
Измерение параметров неравновесных носителей заряда.
Определение параметров полупроводников путем измерения фотопроводимости, фототока, фото-ЭДС, фотолюминесценции и фотомагнитоэлектрического эффекта.
Вольт-фарадные методы измерения параметров полупроводников.
Оптические методы измерения параметров полупроводников.
Заключение.
Приложения.
Физические параметры основных полупроводников.
Параметры Ge, Si, GaAs при температуре 300 K.
Список литературы.