Цветков Э.И. Основы теории статистических измерений

Изд-е 2-е, перераб. и доп. — Л.: Энергоатомиздат, Ленинградское отделение, 1986. — 256 с.Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г.
Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованиями свойств случайных процессов, разработке методов и средств измерения вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.