Горлов М.И., Сергеев В.А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

2-е изд. — Ульяновск: Ульяновский государственный технический университет (УлГТУ), 2015. — 406 с.В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.Введение.
Неразрушающий контроль диагностических параметров полупроводниковых изделий.
Диагностический контроль полупроводниковых структур на пластине и на кристалле.
Разбраковка полупроводниковых изделий по параметрам токовых характеристик.
Диагностика интегральных схем методами критических напряжений.
Выявление потенциально ненадежных ИС методом анализа форм динамического тока потребления.
Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием проникающих излучений.
Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов.
Прогнозирование надежности полупроводниковых изделий по параметрам низкочастотного шума.
Контроль качества и надежности полупроводниковых изделий с использованием шумов и воздействия электростатических разрядов.
Методы диагностического контроля полупроводниковых изделий по тепловым параметрам.
Диагностика качества полупроводниковых изделий по теплоэлектрическим характеристикам.
Отбраковка ненадежных полупроводниковых изделий по информативным параметрам.
Диагностика качества и прогнозирование надежности полупроводниковых оптоэлектроннных приборов.
Отбраковка ненадежных полупроводниковых изделий различными методами.
Список литературы.