Богомолов Е.Н., Глушков Г.С., Жданов Д.С., Сырямкин В.И., Сунцов С.Б. Метрология и сертификация диагностического оборудования и материалов. Книга 2

2-е издание, исправленное и дополненное. — Томск: Томский государственный университет, 2015. — 164 с. — ISBN: 978-5-94621-522-0.В учебном пособии рассмотрены актуальные проблемы метрологического обеспечения диагностического оборудования и сертификации материалов.
Пособие содержит пять глав.
В первой главе приведены такие основные понятия материаловедения, как «нано», обоснован принцип «Нельзя измерить – невозможно создать», дана классификация методов и средств неразрушающего контроля материалов и определена метрологическая база обеспечения единства измерений в нанотехнологиях.
Во второй главе рассмотрены следующие методы и средства диагностики: оптический, магнитный, электромагнитный, электрический, радиационный, тепловой, капиллярный, шумовой и акустический. Подробно представлена цифровая рентгеновская томография, восстанавливающая и анализирующая трехмерные изображения внутренней структуры материала.
Третья глава посвящена вопросам метрологического обеспечения систем диагностики материалов. Приведены метрологические характеристики, погрешности, схемы поверки и оценка надежности диагностических систем. Важным является то, что даны комплексные методы и средства испытания материалов.
В четвертой главе рассмотрены вопросы метрологии программного обеспечения систем диагностики материалов. Дана классификация и определены требования к критериям качества, раскрыты такие понятия программного обеспечения, как сложность и метрики.
В пятой главе даны правила сертификации материалов и новой продукции, приведен порядок разработки ГОСТа в области материаловедения и систем диагностики материалов, изложены основные действующие ГОСТы сертификации материалов.
Для студентов, обучающихся по направлениям: 510500 «Химия» (специальность 011000 «Химия»); 210600 «Нанотехнология»; 222900 «Нанотехнология и микросхемная техника».