Козырь И.Я. Микроэлектроника. Книга 5. Качество и надежность интегральных микросхем

Учебное пособие для втузов. — В 9 книгах. — Под редакцией Л.А. Коледова. — Москва: Высшая школа, 1987. — 144 с.: ил.В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.Предисловие.
Введение.

Основные понятия теории качества и надежности ИМС.
основные понятия и показатели качества.
Основные понятия и свойства надежности.
Количественные показатели надежности.
Эксплуатационные воздействия и требования к надежности ИМС.
Испытания ИМС.Контроль и оценка качества ИМС.
Виды и методы контроля качества.
Контроль полупроводниковых ИМС.
Контроль гибридных ИМС и МСБ.
Тестовый контроль БИС и МСБ.
Измерение параметров и контроль функционирования ИМС.
Оценка качества ИМС по контрольным испытаниям.
Прогнозирование процента выхода годных ИМС.Расчет надежности ИМС.
Виды и особенности расчета надежности.
Методы расчета надежности.
Расчет надежности гибридных ИМС и МСБ по внезапным отказам.
Расчет надежности полупроводниковых ИМС по внезапным отказам.
Расчет надежности ИМС и МСБ по постепенным отказам.
Прогнозирование количественных показателей надежности БИС.Оценка и пути повышения надежности ИМС.
Методы и и оценки надежности.
Оценка надежности по результатам испытаний ИМС.
Тестовые методы оценки надежности.
Анализ отказов ИМС.
Основные виды и причины отказов ИМС.
Пути повышения качества и надежности ИМС.Заключение.