Готра З.Ю., Николаев И.М. Контроль качества и надежность микросхем

Учебник для техникумов. — М.: Радио и связь, 1989. — 168 с.: ил. — ISBN: 5-256-00257-0.Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством.
Для учащихся техникумов по специальности «Производство изделий электронной техники».